迄今为止，新发现的镍超导体仅存在于与金属氢化物1合成的外延薄膜中。该方法通过除顶氧的去钙化1,2,3将镍从钙钛矿从钙钛矿变为无限层结构。这种化学反应可能引入氢（H），影响末端材料的物理特性4,5,6,7,8,9。不幸的是，H对大多数表征技术不敏感，并且由于重量轻而难以检测。在此处，在最佳的SR掺杂ND0.8SR0.2NIO2H外延膜中，次级离子质谱法显示了以ND0.8SR0.2NIO2HX（x 0.2-0.5）形式存在的大量H。在0.22≤x≤0.28的非常狭窄的H兴奋剂窗口中发现了零电阻率，明确显示H在超导性中的关键作用。谐振非弹性X射线散射表明源自顶端氧气外氧化的巡回间质S（IIS）轨道的存在。密度函数理论计算表明，电负性H - 占据了灭IS轨道的根尖氧位点，减少了IIS – Ni 3D轨道杂交。这导致H掺杂的ND0.8SR0.2NIO2HX的电子结构更为二维，这可能与观察到的超导性有关。我们强调，H是外延无限层镍盐超导性的重要成分。
